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產(chǎn)品展示/ Product display

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半導體高低溫試驗箱

半導體高低溫試驗箱
適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進行高溫或低溫試驗，以及高低溫循環(huán)試驗的環(huán)境試驗箱設備。

  • 產(chǎn)品型號：THC-408PF
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 更新時間：2024-12-23
  • 訪  問  量：233
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詳細介紹

半導體高低溫試驗箱

產(chǎn)品特點：

　　1、試驗箱采用不銹鋼（SUS304#）制作而成，結構合理、強勁；
　　2、采用微電腦溫度濕度控制器，控溫可靠，可直接通過電腦連接控制，并可直接保存測試曲線并打印；

　　3、大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用四層真空鋼化玻璃，隨時清晰地觀測箱內(nèi)狀況。

半導體高低溫試驗箱

型號：THC-408PF

技術參數(shù)：

1.溫度范圍：-40℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設備總功率：3KW～15KW


執(zhí)行標準:

GB10589-2006 低溫試驗箱技術條件

GB10592-2006-40℃高低溫實驗箱技術條件

GB11158-2006 高溫試驗箱技術條件

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法

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